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学术预告:何沐博士谈“Reliability estimation for one-shot devices under cyclic accelerated life-testing”

来源 : 理学院     作者 : 理学院     时间 : 2021-04-07  访问量 : 35

报告时间: 2021年4月9号(星期五)15:00-16:00

报告地点:勤园21号楼306报告厅

摘要:

In this talk, the Norris-Landzberg model is proposed for modeling fatigue life due to cyclic temperature fluctuation, it is used together with Birnbaum-Saunders distribution for modeling lifetimes of one-shot devices under accelerated life-tests with different cyclic temperature fluctuations. It contains the Coffin–Manson model as a special case. Inferential methods for model parameters, reliability and mean lifetime are developed and will be presented.

专家简介:

何沐,西交利物浦大学助理教授,香港理工大学本科,加拿大麦克马斯特大学博士,主要研究统计学,师从Narayanaswamy Balakrishnan教授学习生存分析在可靠性方向上的应用,目前的主要研究方向为生存分析与可靠性检验, 已撰写和发表学术论文多篇。


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